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本申请公开了一种基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法、设备及介质,所述方法包括步骤:对被测对象的所有超声回波信号构成的全矩阵采集数据进行时域预处理,提取被测对象中扩展目标的相关散射信号,所述扩展目标为被测对象中具有一定长度和角度的直线形缺陷;根据所述扩展目标的相关散射信号进行超分辨率成像,获取扩展目标的超分辨率超声图像;对所述超分辨率超声图像进行图像特征分析和扩展目标参数评估,获取扩展目标的长度和角度。本申请通过分析超分辨率超声图像,准确评估具有一定尺寸和角度的扩展目标的长度和角度,实现扩展目标的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113409283 B
(45)授权公告日 2022.04.22
(21)申请号 202110716313.7 G06T 5/00 (2006.01)
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