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本发明公开了一种电力半导体元件散热器热阻测试方法及装置,方法包括:步骤1:在散热器台面和发热装置底端开设对应的凹槽;步骤2:将热敏元件埋设在步骤1中开设的凹槽内,获得热敏元件的埋入深度;步骤3:将发热装置固定安装在散热器台面上,获得接触面积;步骤4:启动发热装置,获得发热装置的功率,通过热敏元件测出散热器台面的最高温度,然后计算出散热器的热阻。通过埋设在散热器台面上凹槽内的热敏电阻测出散热器台面的最高温度,避免散热器台面的的最高温度点由周边2mm迁移到发热装置与散热器的接触区域导致无法测量到散热
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113406140 A
(43)申请公布日 2021.09.17
(21)申请号 202110665887.6
(22)申请日 2021.06.16
(71)申请人 深圳市安润佳半导体科技有限公司
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