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光扫描电磁波幅度和相位分布快速测量方法及系统.pdfVIP

光扫描电磁波幅度和相位分布快速测量方法及系统.pdf

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    本发明公开了一种光扫描电磁波幅度和相位分布快速测量方法及系统，利用激光照射下半导体片产生的等离子体斑在待测区域不同位置对未知电磁场的散射，实现对未知电磁场幅度和相位分布的测量，包括：激光光源、光源控制装置、半导体片、接收天线、接收装置和信号处理及控制装置。该方法巧妙利用光致等离子体斑的散射特性和光扫描技术，实现了准确、快速、灵活电磁场幅相特性测量手段。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113484620 B (45)授权公告日 2022.05.17 (21)申请号 202110759705.1 CN 108037173 A,2018.05.15 (22)申请日 20

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