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2023-06-23 发布于四川
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本发明提供一种能够高效地检查未安装发光元件的阵列基板的电气特性的阵列基板的检查方法及显示装置。阵列基板的检查方法是安装多个发光元件的阵列基板的检查方法，阵列基板具有与多个像素相对应地设置的多个晶体管、多个安装电极和多个检查端子，包括：准备未安装多个发光元件的阵列基板的步骤；将具有在多个像素的范围内延伸的支承部和沿支承部的延伸方向排列的多个检查探头的多个检查治具按每个由沿第1方向排列的多个像素构成的像素行配置并使多个检查探头与沿第1方向排列的多个检查端子分别接触的步骤；以及通过多个检查治具对每个像

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113450685 A (43)申请公布日 2021.09.28 (21)申请号 202110309053.1 (22)申请日 2021.03.23 (30)优先权数据

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