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公开了一种半导体装置。所述半导体装置包括:基底,包括芯片区域和边缘区域;集成电路元件,位于芯片区域上;层间绝缘层,覆盖集成电路元件;互连结构,位于层间绝缘层上并且具有位于边缘区域上的侧表面;第一导电图案和第二导电图案,位于互连结构上,第一导电图案和第二导电图案电连接到互连结构;第一钝化层,覆盖第一导电图案和第二导电图案以及互连结构的侧表面;以及第二钝化层,位于第一钝化层上,其中,第二钝化层包括不同于第一钝化层的绝缘材料,并且在第一导电图案与第二导电图案之间,第二钝化层具有定位在比第一导电图案的顶
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113451265 A
(43)申请公布日 2021.09.28
(21)申请号 202110325155.2 H01L 27/02 (2006.01)
(22)申请日 2
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