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延时测量电路、AC校准装置及IC测量装置.pdf

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本发明涉及集成电路测试技术领域,公开了一种延时测量电路、AC校准装置及IC测量装置,延时测量电路包括同步信号源,用以分多次且每次产生一个不同频率的连续方波信号;被测通道,用以与同步信号源连接并分多次接收连续方波信号;参考电路,用以与同步信号源连接并分多次接收连续方波信号;鉴相器,用以与被测通道和参考电路连接并分多次接收被测信号和参考信号,且每次产生一个输出电压;数据处理模块,用以根据输出电压随连续方波信号的频率变化所呈现的三角波函数的周期值计算被测信号相对参考信号的延时,并根据不同被测通道中被测

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113466670 B (45)授权公告日 2022.01.18 (21)申请号 202111030951.X CN 201130924 Y,2008.10.08 (22

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