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本发明提供一种联合IG值和SAR反演高精度电子密度的方法,基于法拉第旋转角算法对获取的全极化SAR数据进行处理计算,获取图像范围内的SARVTEC,将获取的SARVTEC作为约束条件,IG值作为变量,使用拟合得到的IG‑VTEC拟合曲线函数,确定图像中每个点VTEC对应下的IG值,获取目标区域的IG值分布,随后将时间和经纬度以及计算得到的目标区域IG值作为输入,利用IRI模型获取电子密度剖线,最终获取整个研究区域的三维电子密度分布。由于使用了SAR数据获取的高空间分辨率VTEC,反演得到了精
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113433524 B
(45)授权公告日 2022.03.15
(21)申请号 202110698415.0 审查员 公羽
(22)申请日 2021.06.23
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