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描述了用于确定存储器单的块在该块的擦除操作期间是否为慢擦除的设备和技术。擦除操作在指定的擦除‑验证迭代中执行附加的验证测试,以检查块的存储器单元的阈值电压分布的上尾的位置。如果上尾太高,则指示慢擦除块,即使在可允许数量的擦除‑验证迭代内成功完成擦除操作。可以使用前置命令来启动附加的验证测试,该前置命令可以与擦除命令一起发送到存储器芯片。或者,它可以通过存储芯片上的装置参数启动。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113450856 A
(43)申请公布日
2021.09.28
(21)申请号 20201
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