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本发明涉及一种芯片检测设备,其包括基座、第一搬运装置、第二搬运装置、第三搬运装置、第一检测装置和第二检测装置。第一搬运装置将料仓机构中带有料盒的芯片放置在第二搬运装置上,第一搬运装置将料盒打开,便于后续的转运和检测。采用双通道搬运装置为同一套检测装置上料,第一搬运装置完成两个通道的初步上料,每个通道的单独上料过程则采用第二搬运装置和第三搬运装置来完成,两个搬运通道同时工作,如此能有效地加快设备的节拍,提高工作效率。检测完成后的下料过程为上料过程的逆向操作,将料盒放回到料仓机构中。整个上下料以及检
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113466255 B
(45)授权公告日 2022.08.23
(21)申请号 202110704889.1 B65G 47/91 (2006.01)
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