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本发明涉及光器件技术领域,公开了一种微环谐振器的插入损耗测试方法,包括以下步骤:搭建测试系统;通过测试系统测试待测微环谐振器的传输谱线;根据微环谐振器的传输谱线,获得微环谐振器的和3dB带宽,根据微环谐振器的和3dB带宽,获得微环谐振器的精细因子;由于微环谐振器的插入损耗和精细因子是一一对应的关系,根据微环谐振器的精细因子判定微环谐振器的插入损耗大小,测试准确、误差小,测试系统简单、操作便捷、测试快速。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113483997 B
(45)授权公告日 2021.12.07
(21)申请号 202111046814.5 G06F 17/16 (2006.01)
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