- 1、本文档共19页,其中可免费阅读18页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明提供六维测量装置及方法,装置部分包括竖直位移测量单元、水平位移测量单元、角度测量单元、二维光栅、单频激光器、处理器单元;二维光栅与待测物体固定连接,单频激光器发出的单频激光射入二维光栅产生衍射,当二维光栅的位置发生改变时,衍射光的形态发生改变;将衍射光的数据传递至处理器单元,处理器单元根据接收的数据,计算得到二维光栅的水平位移、竖直位移和角度变化。本发明运用处理器单元对信号进行解耦处理,可实现单次衍射的四倍光学细分。本发明还采用对称的结构分布和四步相移相结合的方式,消除测量系统在光程上引入
(19)国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113465514 B
(45)授权公告日 2022.08.16
(21)申请号 202110722961.3 WO 2014201950 A1,2014.12.24
(22)申请日
文档评论(0)