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本发明的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备,包括检测仪,所述检测仪内设有检测区间,所述检测区间内设有收放机构,所述收放机构包括固定设置在所述检测区间一侧内壁的承重杆,所述承重杆上套有四个旋转台,每个所述旋转台上都放置有一卷光学薄膜,本发明可对光学薄膜进行缺陷检测并贴上标签,发明采用一卷卷的光学薄膜直接进行检测,并通过可拆卸的旋转台及卷绕台来对光学薄膜进行完整的收放,大大提高了检测效率,采用多组的旋转台与卷绕台,可有效提高工作效率,节约工作时间,发明内拥有两处贴签机构,既可标记光学薄膜上缺陷的大致范围
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利
(10)授权公告号 CN 113466256 B
(45)授权公告日 2022.04.15
(21)申请号 202110733144.8 (56)对比文件
(22)申请日 2021.06.29
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