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本发明提供一种功率半导体装置及其制备方法,装置包括:第一导电类型的基底;第二导电类型的阱区,设置于基底的第一主面;沟槽栅结构,设置于基底的第一主面,贯穿阱区至基底中;第一导电类型的源极,设置于阱区内,且位于沟槽栅结构的侧面;第二导电类型的集电极,设置于基底的第二主面;第一导电类型的场截止层,设置于基底的第二主面,且位于集电极与基底之间;低寿命区,设置于基底的第二主面,且位于场截止层中靠近集电极的位置,低寿命区包含缺陷以降低少数载流子的寿命。本发明可有效降低器件的拖尾电流,进而降低器件的关断损耗,
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113707706 A
(43)申请公布日
2021.11.26
(21)申请号 20201
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