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一种半导体器件的自动化测试装置.pdfVIP

一种半导体器件的自动化测试装置.pdf

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    本发明涉及半导体器件技术领域，具体的说是一种半导体器件的自动化测试装置，包括机箱，所述机箱上侧内部设有传导组件和电流输出控制组件，所述机箱一侧固定连接有测温箱，所述机箱靠近测温箱的一侧固定连接有水箱，所述水箱内部设有导温组件，所述机箱内部固定安装有固定组件，所述机箱上侧内部固定安装有传导组件。通过机箱内部固定安装有两个电动推杆，两个电动推杆输出端分别固定连接有对接组件，使得使用者可以通过控制电动推杆调整两个对接组件，从而可以于不同规格的制冷片进行通电对接操作，通过固定环内部固定连接有第一导电杆，

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113687179 B (45)授权公告日 2021.12.21 (21)申请号 202111253219.9 (56)对比文件

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