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本发明提供一种质量分析装置,为了使离子源(31)中的对离子化效率造成影响的N种(其中N为2以上的整数)参数最优化而具备:测量控制部(41),对各部进行控制,以在使N种参数中的各参数的值、或者M种(其中M为小于N的整数)参数集中而得到的值的组多阶段地变化的同时,反复执行对包含目标成分的试样的测量;以及参数决定部(53),基于在该测量控制部(41)的控制下执行的测量的结果,依次找到针对各参数的最优值,该质量分析装置使物理量为温度的参数中的至少1种先于所有物理量为温度以外的参数最优化。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113711025 A
(43)申请公布日 2021.11.26
(21)申请号 201980095164.8 (51)Int.Cl.
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