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2023-07-01 发布于四川
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芯片验证方法、系统、设备及存储介质.pdf

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本发明提出一种芯片验证方法、系统、设备及存储介质，该方法包括：获取目标芯片所有被测试设计的验证参数；对于当前被测试设计，利用当前被测试设计的验证参数更新脚本；基于验证平台顶层和脚本，对当前被测试设计进行验证，并将下一被测试设计重新作为当前被测试设计，重复上述步骤，直到对所有被测试设计完成验证，以对目标芯片的设计进行验证。本发明实施例在目标芯片有多个被测试设计进行功能测试时，只需要更改脚本文件中的验证参数即可，避免了现有技术中利用人工进行端口连接这样重复性的劳动，从而节约了芯片验证时间，提高了芯片

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113705140 A (43)申请公布日 2021.11.26 (21)申请号 202110813940.2 (22)申请日 2021.07.19 (71)申请人深圳市紫光同创电子有限公司

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