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批改模型训练方法、批改方法、装置、电子设备和介质.pdfVIP

批改模型训练方法、批改方法、装置、电子设备和介质.pdf

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    本公开涉及一种批改模型训练方法、批改方法、装置、电子设备和介质；其中，候选批改模型包括第一分支和第二分支，该方法包括：将训练样本中的作答图像和训练样本中的题目描述字符串输入候选批改模型的第一分支，得到第一图像特征；基于候选批改模型的第二分支，根据第一图像特征和训练样本中的答案描述字符串，获得预测结果；基于预设损失函数，根据预测结果对第一分支和第二分支进行训练，获得训练后的目标批改模型。本公开实施例能够有效实现对作图题的作答图像的准确批改。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113722466 B (45)授权公告日 2022.02.15 (21)申请号 202111295902.9 G06F 16/58 (2019.01)

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