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本发明提供了一种温度检测电路、芯片及温度检测方法。温度检测电路包括第一MOS管～第七MOS管、第一电阻～第六电阻和第一反相器；第一MOS管的栅极及其漏极、第二MOS管的栅极、第三MOS管的漏极相互连接于第一节点；第二MOS管的漏极、第四MOS管的漏极、第五MOS管的栅极、第六MOS管的栅极及其漏极相互连接于第二节点；第三MOS管的栅极、第四MOS管的栅极、第二电阻的一端、第三电阻的一端相互连接于第三节点，第三MOS管的源极与第五电阻的一端相连；第四MOS管的源极与第五电阻的另外一端及第四电阻的一
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113758589 A
(43)申请公布日 2021.12.07
(21)申请号 202111045867.5
(22)申请日 2021.09.07
(71)申请人 上海集成电路研发中心有限公司
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