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2023-07-03 发布于四川
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一种轴角类芯片自动测试系统的实现方法.pdf

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本发明是一种轴角类芯片自动测试系统的实现方法，于芯片自动测试领域。该方法是基于LabView平台开发的界面控制软件，配合基于Keil平台开发的嵌入式控制软件，对测试、测量用设备和仪器完成参数设置、操纵控制以及数据采集，实现计算机与主控板的通信、数据交换、指令控制，完成自动测试流程，实现对轴角类芯片电压电流，角度转换精度和积分非线性误差，速度精度和最大跟踪速度，参考信号频率，参考中心电压和直流失配，参考电压和交流失配，基准电压和基准电压抑制，以及逻辑输出高电平和低电平功能的测试。本发明方法可以有效

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113759241 A (43)申请公布日 2021.12.07 (21)申请号 202110972522.8 (22)申请日 2021.08.23 (71)申请人连云港杰瑞电子有限公司

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