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本公开提供一种用于光电成像器件在轨运行后光电参数恢复的方法,光电成像器件在轨运行后受到高能粒子的辐射损伤,包括:S1,将所述光电成像器件置于表面覆有遮光单元的暗室腔体中;S2,利用温控系统调节所述暗室腔体至预设温度;所述温控系统至少包括信号处理电路、热敏电阻、散热元件、加热元件、模数转换器、多路模拟开关;S3,对所述光电成像器件进行预设时长的退火,记录所述退火的条件信息;S4,利用测试系统中的控制模块设定测试参数,采集所述光电成像器件在不同积分时间下的图像数据;S5,利用计算机对所述图像数据进行
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116389925 A
(43)申请公布日 2023.07.04
(21)申请号 202310379602.1
(22)申请日 2023.04.10
(71)申请人 中国科学院新疆理化技术研究所
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