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本发明涉及微电子领域中的集成电路时钟检测技术领域,特别涉及一种芯片时钟树的验证方法、装置及芯片。本发明实施例提供的芯片时钟树的验证方法通过识别待测时钟的类型,识别出时钟源和时钟节点,根据时钟源和时钟节点建立时钟树模型,再将时钟树模型与待测时钟绑定,以对所述待测时钟进行实时监测,根据时钟树模型和实时监测的结果验证待测时钟。该方法基于待测时钟的时钟节点建立其对应的时钟树模型,并将时钟树模型与待测时钟绑定,就能在验证时钟树时基于时钟树模型进行逐一验证,验证覆盖率高且时钟复用性强,此外,在待测时钟的设计
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113835469 A
(43)申请公布日 2021.12.24
(21)申请号 202111153882.1
(22)申请日 2021.09.29
(71)申请人 深圳大普微电子科技有限公司
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