集成电路试题库.pdf

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半导体集成电路典型试题 绪论 1、什么叫半导体集成电路? 【答案:】 通过一系列的加工工艺,将晶体管,二极管等有源器件和电阻,电容等无源元件,按一定电路互连。 集成在一块半导体基片上。封装在一个外壳内,执行特定的电路或系统功能。 2 、按照半导体集成电路的集成度来分,分为哪些类型,请同时写出它们对应的英文缩写 【答案:】 小规模集成电路(SSI ),中规模集成电路(MSI ),大规模集成电路(VSI ),超大规模集成电路 (VLSI ), 特大规模集成电路(ULSI ),巨大规模集成电路(GSI ) 3 、按照器件类型分,半导体集成电路分为哪几类? 【答案:】 双极型(BJT )集成电路,单极型(MOS )集成电路,Bi-CMOS 型集成电路。 4 、按电路功能或信号类型分,半导体集成电路分为哪几类? 【答案:】 数字集成电路,模拟集成电路,数模混合集成电路。 5 、什么是特征尺寸?它对集成电路工艺有何影响? 【答案:】 集成电路中半导体器件的最小尺寸如 MOSFET 的最小沟道长度。是衡量集成电路加工和设计水平的 重要标志。它的减小使得芯片集成度的直接提高。 6 、名词解释:集成度、wafer size 、die size 、摩尔定律? 【答案:】 分析下面的电路,指出它完成的逻辑功能,说明它和一般动态组合逻辑电路的不同,分析它的工作原 7 、 理。 【答案:】 该电路可以完成 NAND 逻辑。与一般动态组合逻辑电路相比,它增加了一个 MOS 管 M ,它可以 kp 解决一般动态组合逻辑电路存在的电荷分配的问题。对于一般的动态组合逻辑电路,在评估阶段, A=“H” B=“L”, 电荷被OUT 处和 A 处的电荷分配,整体的阈值下降,可能导致OUT 的输出错误。 该电路增加了一个 MOS 管 M ,在预充电阶段,M 导通,对 C 点充电到V 。在评估阶段,M kp kp dd kp 截至,不影响电路的正常输出。 8、延迟时间 【答案:】 时钟沿与输出端之间的延迟 第1章 集成电路的基本制造工艺 1、四层三结的结构的双极型晶体管中隐埋层的作用 【答案:】 减小集电极串联电阻,减小寄生PNP 管的影响 2 、在制作晶体管的时候,衬底材料电阻率的选取对器件有何影响 【答案:】 电阻率过大将增大集电极串联电阻,扩大饱和压降,若过小耐压低,结电容增大,且外延时下推大 3 、简单叙述一下pn 结隔离的NPN 晶体管的光刻步骤 【答案:】 + 第一次光刻:N 隐埋层扩散孔光刻 第二次光刻:P 隔离扩散孔光刻 第三次光刻:P 型基区扩散孔光刻 + 第四次光刻:N 发射区扩散孔光刻 第五次光刻:引线孔光刻 第六次光刻:反刻铝 4 、简述硅栅 p 阱 CMOS 的光刻步骤 【答案:】 P 阱光刻,光刻有源区,光刻多晶硅,P+ 区光刻,N+ 区光刻,光刻接触孔,光刻铝线 5 、以p 阱 CMOS 工艺为基础的 BiCMOS 的有哪些不足 【答案:】 NPN 晶体管电流增益小,集电极串联电阻大,NPN 管的 C 极只能接固定电位 6 、以N 阱 CMOS 工艺为基础的 BiCMOS 的有哪些优缺点?并请提出改进方法 【答案:】 首先 NPN 具有较薄的基区,提高了其性能:N 阱使得NPN 管 C 极与衬底断开,可根据电路需要接任意 电位。缺点:集电极串联电阻还是太大,影响其双极器件的驱动能力。改进方法在N 阱里加隐埋层,使 NPN 管的集电极电阻减小。提高器件的抗闩锁效应。 7 、请画出NPN 晶体管的版图,并且标注各层

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