《电力用安全芯片技术规范 第4部分：可靠性测试》.pdfVIP

ICS CCS T/CEC 中 国 电 力 企 业 联 合 会 标 准 T/CECXXXX.4-20XX 电力用安全芯片技术规范 第4部分：可靠性测试  Electricpower safety chiptechnical specification Part4 Reliabilitytesting ：  （征求意见稿） （在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上） 20XX—XX—XX发布 20XX—XX—XX实施 中 国 电 力 企 业 联 合 会 发 布 T/CECXXXX.4-20XX II T/CECXXXX.4-20XX 引 言 电力系统是国家关键基础设施，电力安全是国家安全的重要保障，安全芯片作为信息和网络安全的 基础介质，已广泛应用于电力行业各个场景。目前，电力行业没有相应的技术规范对电力用安全芯片进 行统一规定和描述，影响了安全芯片标准化应用，特制定本系列规范。 通过对电力用安全芯片的物理特性、通信协议、安全级存储及测试等的规范要求，为芯片设计及芯 片操作系统研发测试等相关方提供技术遵循，确立普遍适用于电力行业安全芯片的技术规范和测试原则， 使电力用安全芯片在各种应用场景中更好地发挥作用，提升电力系统的安全性和稳定性。 今后还将针对芯片封装、生产发行、应用接口等方面制定规范及要求，逐步完善电力用安全芯片的 标准体系。 T/CEC XXXXXX拟由五个部分构成。 —— 第1部分：术语。目的在于在电力用安全芯片的设计、测试、应用中基本术语和基本概念的 统一理解。 —— 第2部分：物理特性及SPI通信。目的在于确定电力用安全芯片通用的物理特性和设备调用 安全芯片使用的通信协议要求。 —— 第3部分：安全级数据存储。目的在于确立适用于各类安全芯片的安全体系架构和数据存储 与管理技术要求。 —— 第4部分：可靠性测试。目的在于通过建立可靠性测试技术文件，提出可靠性测试要求，进 行规范性地可靠性测试，以发现安全芯片的可靠性问题，提升安全芯片的可靠性等级。 —— 第5部分：功能测试。目的在于确立适用于各类安全芯片所需要的遵守的一般原则和相关技 术要求。 III T/CECXXXX.4-20XX 电力用安全芯片技术规范 第4部分：可靠性测试 1 范围 本文件规定了电力用安全芯片的可靠性测试要求及方法。 本文件适用于采用半导体集成电路工艺设计制造的电力用安全芯片可靠性测试，其他芯片的可靠性 测试也可参考使用。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件， 仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其必威体育精装版版本 （包括所有的修改单）适用于本 文件。 GB/T 17626.2 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.4 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 IEC 60749-26 半导体器件-机械和气候试验方法-第26部分：静电放电 （ESD）敏感度试验-人体模 型 （Semiconductor devices-Mecha