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2023-07-26 发布于四川
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一种基于ISAR成像和序列CLEAN的RCS近场测量方法，其步骤为：获取待测目标和定标体补偿后的近场后向散射场；采用下述BP成像算法中的公式，对补偿后的近场后向散射场进行ISAR成像；利用序列CLEAN算法分别提取待测目标和定标体的ISAR图像的散射点；计算ISAR图像的阈值比较值d0；判断阈值比较值是否大于或等于终止阈值H；根据所提取散射点的位置和复幅值，计算待测目标的远场后向散射场；根据待测目标的远场后向散射场，通过定标操作得到待测目标的远场绝对RCS。本发明消除了错误提取伪散射点导致测量精

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116482682 A (43)申请公布日 2023.07.25 (21)申请号 202310410341.5 (22)申请日 2023.04.17 (71)申请人西安电子科技大学地址 7100

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