JB 5580-1991半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法.pdf

TB中华人民共和国机械行业标准JB/T 5580--91半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法1991-07-16发布1992-07-01实施机械电子工业部发布 中华人民共和国机械行业标准JB/T 5580--91半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法主题内容与适用范围本标准规定了机、电、仪专用数字电路（以下简称器件）的静态参数，动态参数和功能验证方法的基本原理。本标准适用于机，电、仪一体化整机专用的数字电路。2 引用标准GB3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》GB3439《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》3总体要求3.1若无特殊说明，测试期间的环境或参考点温度偏离规定值的范围，应符合器件详细规范的规定。3.2测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差，应符合器件详细规范的规定。3.3测试期问，施于被测器件的电源电压，应在规定值的土1%以内，施于被测器件的其它电参量的精度，应符合器件详细规范的规定。3.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。3.5测试期间，测试设备或操作者应避免因静电感应而引起器件失效。4 静态参数测试4.1输入高电平电压VH见 GB 3834 第 2.1 条。4.2输入低电平电压Vil见 GB 3834 第 2.2 条。4.3输出高电平电压VoH见 GB 3834 第 2.7 条。4.4输出低电平电压VoL见 GB 3834 第 2.8 条。4.5输入高电平电流I1H见 GB 3834 第 2.9 条。4.6输入低电平电流IL见 GB 3834 第 2.10 条。4.7输出高电平电流IoH见 GB 3834 第 2.11 条。4.8输出低电平电流IoL机械电子工业部1991-07-16批准1992-07-01实施1 JB/T 5580-91见 GB 3834 第 2.12 条。4.11输出截止态电流Io(QFF)见 GB 3439第 2.22 条。4.12输出高阻态时高电平电流IoH见 GB 3834 第 2.13 条。4.13输出高阻态时低电平电流Io1L见 GB 3834 第 2.14 条。4.14静态功耗 Ps4.14.1 定义输入端施加规定的工作电平时，测量经VpD流入器件的最大电流与电源电压的乘积。4.14.2测试原理图静态功耗Ps的测试原理图，如图1所示：输被测网络器件.图1静态功耗Ps测试原理图4.14.3测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定：a。环境温度Tab.电源电压Vppsc.输入端施加的电平。4.14.4，测试程序4.14.4.1在器件详细规范规定的环境温度T下，将被测器件接入测试系统中。4.14.4.2电源电压VDD调到器件详细规范规定的电压值。4.14.4.3输入端施加器件详细规范规定的电平。4.14.4.4输出端开路。4.14.4.5输出经电源端流入器件的最大电流Ismax。静态功耗Ps由下式求出：Ps=Ismax .VpD2 JB/T 5580--915 动态参数测试5.1工作频率范围工作频率范围的测试原理图，如图2所示：电源输入驱动网络翰出负载网络器频率谢试仪信号检测仪图2工作频率范围测试原理图5.1.1测试条件测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定：a.环境温度TAb.电源电压VpDsC.输入高电平电压VH，输入低电平电压ViLd.输出高电平电压VoH，输出低电平电压VoLe.输入脉冲条件：幅度、宽度、上升和下降时间、重复频率范围f.不同脉冲间的影响，g.输入驱动网络及输出负载网络。5.1.2测试程序5.1.2.1在器件详细规范规定的环境温度T下，将被测器件接入测试系统中。5.1.2.2电源电压VDD调到器件详细规范规定的电压值。5.1.2.3输入端施加器件详细规范规定的逻辑电平。5.1.2.43输出端施加器件详细规范规定的负载网络。5.1.2.5由低到高逐步调整输入网络的频率，直到被测器件不能满足规定的高低电平的电压值，这时测量出输入网络的频率变化的范围。5.2动态功耗Pa见GB 3834第3.2 条。6 功能验证方法6.1#替换法用被测电路替换整机装置中的等效“模拟”电路（或原功能模板），并按整机要求进行功能的正常运行。3 JB/T 5580-916.1.1验证条件验证期间，下列验证条件应符合器件详细规范的规定：a．环境温度Tasb．电源电压Vpb;C．输入条件符合整机的要求。6.1.2验证程序6.1.2.1在器件详细规范规定的环境温度T下，将被测器件接入整机中。6.1.2.2电源电压Vzp调到器件详细规范规定的电压值。6.1.2.3启动整机装置进行功能验证。6.2比较法在测试仪器中，将功能验证图形同时送入被测电路与标准电路（或标准功能板），并将其输出值进