JB 8226.4-1999光学零件镀膜 内反射膜.pdf

JB/T 8226.4--1999前 言本标准是对 JB/T 8226.4—95(GB 1322-88)《光学零件镀膜内反射膜》的修订。修订时，对原标准作了编辑性修改，主要技术内容没有变化。本标准自实施之日起，代替JB/T8226.4-95。本标准由全国光学和光学仪器标准化技术委员会提出并归口：本标准负责起草单位：上海光学仪器研究所。17 中华人民共和国机械行业标准JB/T 8226.4—1999光学零件镀膜内反射膜代替 JB,T 8226.4—95Coating for optical element, Rear surface mirror coating范围本标推规定了镀在光学玻璃零件上膜层的技术要求、试验方法、检验规则。本标准适用于在光学玻璃零件上镀有保护层的银或铝内反射膜，用其它材料镀制而成的内反射膜也可参照使用：2引用标准有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准必威体育精装版版本的可能性。GB/学零件表面瘫病GB/T2423.1-1989电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验方法GBT 2423.3--1993电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T2828一1987逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）3 分类3.11真空镀银内反射膜。3.2 溶液沉淀法镀银内反射膜。3.3 真空镀铝内反射膜。4 技术要求4.1 镀膜后零件的光学性能4.1.1白光反射比白光反射比R按表1规定。表 1%条号反射比R不小于3. 1903.2883.385国家机械工业局1999-08-06批准2000- 01- 01实施18 JB/T 8226.4-1S994.1.2光谱反射比对光谱反射比有技术要求的,在 =C0mm ~ 700nm 波段上最小反射比 R 按表 2 规定表?%c条号最小反射比R不小于3.1803.2783.3804.2镀膜后零件的表面质量4.2.1外观膜层不允许有损坏痕迹，如起皮、脱膜、裂纹和灰筹等。4.2.2 麻点按抛光表面疮病的原级数 J,其个数 G允许增加 30%。4.2.3 擦痕按抛光表面疵病的原级数 J,其总长度允许增加 30% 。4.2.4 针孔膜层不允许有直径大于 0. 2mm的针孔存在；直径0.01mm~0.2mm的针孔按 4.2.2麻点要求；直径小4.3保护层质量4.3.1保护层应均匀、无气泡和机械损伤。4.3.2保护层对零件表面镀膜应有良好的附着力；当用刀片交又切划时，保护层不允许成片刹落，4.3.33.1和3.2在室温下硫化氢饱和溶液中没泡Sh，银膜应无变化，保护层不允许起层、拉裂和脱落，4.4镀膜后零件对环境的适应性4.4.1 恒定湿热无包装情说下，在温度40℃±2℃，相对湿度90%~95%的条件下保持24h，膜层不元许脱落，光学性能仍符合4.1要求。4.4.2 盐雾无包装情况下，在（重量）浓度为4.9%~5.1%，pH值为6.5~7.235℃)的盐雾中承受连续募8h,膜层不允许脱落，光学性能仍符合4.1要求。4.4.3 低温无包装情说下，在－40℃±3℃的低温中保持2h，膜层应无龟裂、脱落，光学性能仍符合1. 1要求，5 试验方法5. 1 白光反射比(4. 1. 1)用6V，30W白炽灯作光源、硒光电池接收的反射比测量仪，准确度优于1%5. 1. 2 试验程序在膜面有效区域内任意位置上测量反射比，测量时光线人射角取45°5.2 光谱反射比(4.1.1)5.2. 1 试验工具反射比测量装置：准确度优于1.5%和标定好反射比的反射镜。5.2.2 试验程序以标定的反射镜为基准，相对测定被捡零件(厚度不大于1mm)在可见区的光谱反射比。当被捡冬件19 JB/T. 8226. 4—1999不宜测量时，用光学性能相同（折射率、表面粗糙度、等效厚度和同次镀膜）的平面试验片代替，测量时光线人射角小于15°5.3镀膜后零件的表面质量（4.2)5.3.14.2.1用60W～100W的白炽灯照明,以黑色屏幕为背景，在反射光下，目测检验。5.3.2.4.2.2~ 4.2.4 按 GB/T1185 的检验方法c5.4保护层质量(4.3)5.4.14.3.1用60″~100W的白炽灯照明，以黑色屏幕为背景，目检验。5.4.24.3.2在室温下,用锋利刀片在保护层纵横交叉切割 5条~6条,其间距为1mm，目测检验。5.4.34.3.3在室温和无包装情况下，将被检零件浸泡在硫化氢饱和溶液中5h，取出零件，清洁表面后检验。5.5镀膜后零件对环境的适应性(4.4)5.4.1恒定湿热(4.4.1)按 CB/T 2423.3 的规定。5.5.2 盐雾(4.4.2)按GB/T 2423.17的规定。5.5.3 低温(4.4.3)按 GB/T 2423.1 的规定