JBT 5847-1991高温阻断试验方法导则.pdf

中华人民共和国机械行业标准JB/T 5847--91高温阻断试验方法导则主题内容与适用范爵本定了普通整流管、普通晶闻管及其派生器件（以下称产品）的高温阻断试验方法。本1运用于产品逐批检验、周期检验。本标准不适用于产品可靠性定级、维持等试验。引用标准2GB 4939普通整流管GB-4940普通晶闸管GB 3187 可靠性基本名调术语及定义GB2900.32.电工名词术语：电力半导体器件GB 4936.1 半导体分立器件总规范GB 2828逐批检查计数抽样程序及抽样表α术语3.1高温阻断试验在规定的时间内对产品施加规定的温度和PN结反向偏置电压的试验。3.2 耐久产品在规定的使用和维修条件下，达到某种技术或经济指标极限时，完成规定功能的能力3.3 失效产品丧失规定的功能。3.4 失效模式失效的表现形式。3.5 失效机理引起失效的物理、化学变化等内在原因。3.8 早期失效产品由于设计制造上的缺陷等原因而发生的失效。（GB318782中2.2.6条）3.7筛选试验为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效而进行的试验。3.8 对久性试验为考察产品的性能与所加的应力条件的影响关系而在一定时间内所进行的试验。3.9PN结半导体P型区和N型区之间的结。毒 试验目的筛选试验的目的是剔除早期失效的产品。耐久性试验的目的是考核产品在规定的条件下完成规定功能的能力。电路原理机械电子工业部1991-10--24批准1992-10—01实施.176 JB/T 5847--91Rs加热珑备控温系统fc过温保50H?护老路满电流测量系统图1高温班断试验电路电源变压器,Rs试验主回路限流电阻：Ro-漏电流取样电阻，R1-一试验回路限流电阻：Ro门镀电阻：DUT-受试产品：S-一熔断器断态峰佳电压谢量表Vr*反向蜂值电压测避表。注：在些类型的晶闸管中：由于电源接疆或试验电路的噪音等源因，有时会引起晶闻管的开通。Ro可降低门极恶龄度：达到防止开通的目,的。6: 抽样数量6.1:表1产品容量样品数100A全数≤100A按GB 2828,:AQL为2:5或4:06.2:耐久性试验按GB.4030的3.2、GB4940的.3.2，或有关详细规范的B8、C8分组规定的抽样方索进行。7 . 试验条件：试验电压试验电压按有关标准规定值或本标准的表2选取。试验电压的变化应在规定值的0%一一10%之内7.2：试验温度筛选试验温度的变化应待合表2规定耐久性试验温度按GB4939的3.2放GB4940的3，2的规定。177 IB/T 5847.-S1T.3. 试验持续时间筛选试验的时间推荐采用表2的值。耐久性试验的时间接GB：4939的3：2或GB4940的3：2确定。由于各种原因使试验中断.应尽可能在24i内恢复试验，试验时间充许接续计算。筛选试验可按表2所列组合条件进行。表2试验电压·V:试验时间说明V和(成) VDR80%6:：单个元件加热方式B100%Tm-1812.cTim io80%48注：T3m为受试产品额定结温。试验设备、仗證、仪表:18.1．试验仪器、仪表的精度率应不低于1.5级。8.2试验保护措施试验时，加热装置应有过热控制保护措施以限制最高温度。试验电路须采用抑制瞬态过电压的措施，以防止由于瞬态过电压使产品损坏。·失效判据9,1试验后，判定器件失效的失效判据见表3。表3器件类别判定失效电参数失效判据IRRM2XUSL或1xUSL1)普通晶闸管3)IDRMTSAXIISQXIcr1.1xusLVTM1.1xUSLIRRM3×USL或1×USL普通整流管1)ndA1.1xUSL派生器件31注：1）USL=规范的上限值，2)如果产品在试验时丧失了规定的阻断电压能力，认为该器件失效，可参照装3中餐通晶闻管和替通整流管制订相应的失效判据。9.2测试结束后，试品在常温下放置2h再进行测试。全部测试均应在96h内完成。批试验不合格时，则应按GB4936.1的3.6,2.4周期检验不合格时的程序处理。178 JB/T :5847~--9110 试验记最和试验报售10.1 . 试验记源在试验过程中，应做好准确、完整的试验记录，对每一试品要按附间顾序，在规定时间内失效发生后进行灌电流数据记录。当因误试（期试验设备故障或测量仪器效障戴操作人员失误）而使器件失效时；应将失效记入试验记录，并说明原因。102试验报告试验报告是在试验结束后根据试验记录和分析作出最后结论的文竹，其内容应按附录A要求。179 注备据维修人况效精投试数量失理累积纽穆时间A(期I JDRm Irrm IG?日试数试验标准、方案等文件名称、代号参生电性仪器故障发生时间JB/T 5847-91高温阻断试验报告表离温阻断试验报告表特前（补充件）批量数量试验单位：本标准由机电子工业部西安电力电子技术研究所提出并归口。