SJ_T 11704-2018微电子封装的数字信号传输特性测试方法.pdf

ICS 31.200L 55备案号：SJ中华人民共和国电子行业标准SJ/T 11704—2018微电子封装的数字信号传输特性测试方法Digital signal transmission test method for microelectronic packages2018-02-09发布2018-04-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布 酒 SJ/T117042018前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由全国集成电路标准化分技术委员会（SAC/TC78/SC2）归口。本标准主要起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学、中国电子科技集团公司第五十开分成MANONI本标准主要起草人：王琪RTO本标准为首次发布，TECHNOLOGYVSD SJ/T117042018微电子封装的数字信号传输特性测试方法1范围本标准规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直流串联电阻的测试方法。本标准适用于高频数字微电子封装INFORMATIONAND心2规范性引用文件WIRYANDINORM下列文件对于期的版本适用于本文件。凡是不注日期的用件，其必威体育精装版版本（包括所有的修改单）适用于电子GJB 548起TECHINOLOGY88及符32术语和定下列术义及符号3.1 术语禾LSI3. 1. 1特性阻抗cacteristic impean某一段传输线面其电阻和电感对电容的比值所呈现的阻抗。3. 1. 2L传输延迟时间transmission delay time具有一定驱动阿抗的驱动器产生的脉冲在某一段传输线上产生的D3.2符号R：电阻;L：电感；C: 电容;fpd：传输延迟时间；Zo：特性阻抗;l：引线长度。4一般要求4. 1测试环境除另有规定外，测试环境（温度、气压等）应符合GJB548的相关规定。 SJ/T 1170420184.2测试设备测量和试验设备应满足测量和试验的使用要求。仪器设备的基本要求规定如下：时域反射计：对于测试所使用的时域反射计（TDR），其用于产生反射的系统上升时间应至少a)是不大于待测封装电路上升时间的1/5，最好是不大于1/10。互连线和固定装置应按此要求设计，使这一比值不会因为测试装置的反射和振铃而衰减。直流电阻测试设备：直流电阻测试设备和探针固定装置应具有测试封装引线电阻和芯片到封b)装互连介质电阻的能力，在包含探针机械接触电阻的情况下，测试误差不应超过实际值的10%。测试设备引起的测试误差应满足所测参数准确度的要求。c)5特性测试5.1封装传输特性5.1.1目的测试典型配置下的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感。5.1. 2 测试框图使用TDR的测试设备配置如图1所示。应测试所有典型配置下的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感，这些典型配置应根据封装图纸和预定应用情况进行确定。典型接地线路同轴或带状线铜地平域反射计奔鲸互连保持图1基于时域反射计的测试配置5.1.3测试条件测试期间，应规定以下测试条件：a)环境温度范围；b）特征阻抗（ZRef），单位为欧（2）。5. 1. 4 测试程序测试程序规定如下：使用一段特征阻抗（ZRef）已知并经过校准的同轴线作为参考，测试TDR上所显示的被测封装a)引出端（采用零长度短接线路定位）的阻抗最小值Zmin、最大值Zmax和平均值Z，同时得到反射系数p。b）通过公式(1)，计算每种情况下的特性阻抗：(1 + p).(1)Z。 = ZRef(1 - p)式中:2 SJ/T117042018特性阻抗，单位为欧（Q）；Zo特征电阻，单位为欧（2）；ZRef -反射系数。p通过TDR测试从外部封装引出端（ti）到芯片上键合点（t2）的时间差(△t=ti-t2)。从封装设计C图纸上，确定封装中被测线的物理长度（1）。根据公式(2)计算单位长度传输延迟时间：△t..(2)tpd1式中：单位长度传输延迟时间，单位为秒（s）；tpdlAt外部封装引出端到芯片上键合点的时间差，单位为秒（s）；1引线长度，单位为毫米（mm）d)根据公式(3)计算单位长度负载电容：t pdl.(3)C,Zo式中：Ci单位长度负载电容，单位为法（F）；单位长度传输延迟时间，单位为秒（s）；tpdlZo特性阻抗，单位为欧（2）。e）根据公式(4)计算单位长度负载电感：(ear)2..(4)C式中:Li 单位长度负载电感，单位为亨（H）；单位长度传输延迟时间，单位为秒（s）；tpal Ci 单位长度负载电容，单位为法（F）。5.1.5.注意事项应注意以下事项：使用TDR的测试：使用TDR进行封装传输特性的精确测试，需要仔细设计并安装