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基于STM32的透光率手持仪设计.docx

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    PAGE I 基于STM32的透光率手持仪设计 II- 摘 要 材料透光率是反应物体平整程度，薄膜厚度的一个重要参数之一。随着光学电子科技和光学透明材料的发展，对于光学材料的指标参数要求日益增高，在这种环境下，利用光学传感器测量指定的光学材料，从而提供被测材料透光率有着重要的意义。 本设计是一种通过测量薄膜的透光率数值，进而反映出被测薄膜厚度的手持测试仪。主要利用MAX44009 环境光传感器，通过测量一个恒定光源穿透一个被测材料后，衰减之后的光照强度流明数据，进而得出材料的透光率。利用STM32F103C8单片机作为核心控制模块，进行数据信息的分析和计算。MAX44009 环境光传感器

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