SJT 11404-2009铌酸锂集成光学器件通用规范.pdf

ICS 33.180M33备案号：中华人民共和国电子行业标准SJ/T 11404—2009酸锂集成光学器件通用规范General specifications forLiNbOs integrated optical devices2009-11-17 发布2010-01-01 实施中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T 11404-2009前言本规范附录A为规范性附录。本规范由工业和信息化部电子工业标准化研究所归口。本规范主要起草单位：中国电子科技集团公司第四十四研究所。本规范主要起草人：郭萍、李刚毅、赵英、沈映欣。ST2010 SJ/T 11404-2009酸锂集成光学器件通用规范1范围本规范规定了锯酸锂集成光学器件（以下简称“器件”）所需的质量评定程序、检验要求、筛选、抽样要求、试验和测量方法的内容。本规范适用于由锯酸锂材料制作的强度调制器、相位调制器、光开关以及用于光纤陀螺的Y波导相位调制器等，由酸锂材料制造的具有类似功能的集成光学器件可参照执行。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本规范，然而，鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否可使用这些文件的必威体育精装版版本。凡是不注日期的引用文件，其必威体育精装版版本适用于本规范。GB/T 191-2000包装储运图示标志..GB/T2421电工电子产品环境试验第i部分：总则GB/T2423°1三电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温GB/T2423.2-电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温GB/T2423.5电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Ea和导则： GB/T 2423.10电工电子产品环境试验第2部分，试验方法试验Fc和导则振动（正弦）GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分，试验方法试验Fd：宽频带随机振动-一般要求GB/T2423.22电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化GB/T2423.28电工电子产品环境试验，第2部分：~试验方法试验T锡焊GB/T2828.1-2003计数抽样检验程序”第1部分！按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划纤维光学五连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-4部分：试验光纤/光缆GB/T 18310.4保持力GJB 128A-1997·半导体分立器件试验方法GJB 4026-2000锯酸锂集成光学器件通用规范SJ20869锯酸锂集成光学波导调制器测试方法3术语和定义SJ20869已确立的和下列术语和定义适用于本规范。：3. 1相位调制器phase modulator利用器件的电光效应，通过外加电场改变波导中传导光波的相位的器件3. 2强度调制器intensity modulator利用器件中的分束器将传导光波分束成两路相干光，经过相位调制器改变两束光波的相位差，通过合束器使输出光强随外加电信号而改变的器件。 SJ/T 11404.2009光开关optical switch通过外加电场改变传导光波的传播相位，从而使传导光波在两波导间关断或打开3.4Y波导相位调制器Ywave-guidelopticaldevice，利用器件中Y形3dB分束器，将传导光波一分为三并利用相位调制器对两束光分别进行相位调制的器件。3.5波形失真度waveform distort ion.Wa当器件外加调制信号（方波或锯齿波）时起输出氵3.6开关电压switching voltageV.on-off光开关开通和关断时的电压差。3.7开关串音: switchingcrosstalk?K on-off光开关关断和开通时输出光信号的光功率之比。3.8characteristicimpedanc特征阻抗Ze在一定频率下，施加在器件的端电压和流过该器件的电流之比3.9电反射electricalreflectionS11器件的正向输入电信号与反射电信号之比要求4.优先顺序+一致时，应遵循下列优先顺序！如本规范与详细规范不一a)详细规范；6)通用规范；c）第2章中所引用文件。器件分类1.2器件分为以下几类：-相位调制器；强度调制器；光开关：Y波导相位调制器Or其它。.光电性能.-类器件的相关器件的下列光电性能应满足详细规范规定) SJ/T:11404--2009-工作波长（）：-插入损耗（L）半波电压（V）.：1带宽（B）；.调制消光比（E）分束比（D）: :.偏振串音（）:. -波形失真度（W）；开关阵列（A）开关串音（Konorr）残余强度调制（M）（要求时）特征阻抗（Z）（要求时)电反射（Si）（要求时）-背向光反射（R要求时）：-开关电压（vor）（要求时）TNN4.4材料、零部件..器件所用的材料零部件应符合本