SJ_T 11654-2016固态盘通用规范.pdf

ICS 35.220.20L 63SJ备案号：中华人民共和国电子行业标准SJ/T11654—2016固态盘通用规范General specification for solid state disk2016-09-01实施2016-04-05发布发布中华人民共和国工业和信息化部 SJ/T116542016目次前言II范围12规范性引用文件3术语和定义4要求.35试验方法6质量评定程序612标志、包装、运输、贮存713附录A（资料性附录）产品外观及安装尺寸.15附录B（资料性附录）接口.19附录C（规范性附录）故障判断，25 SJ/T116542016前言本标准依据GB/T1.1一2009给出的规则起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由工业和信息化部电子信息司提出。本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口。本标准起草单位：华中科技大学、普天研究院、中国电子技术标准化研究院、深圳市朗科科技股份有限公司、爱国者电子科技有限公司、华澜微卫有限公雨F联想（北京）有限公司、北京神州龙芯集成电路设计有限公司、杭州电子科技人学上深柔吉井NRORMATIONT本标准主要起草人：冯丹周、胡洋、童薇、陈庆方、李晓华冒伟、徐洁、任建强、REINIOE张金凤、樊星。张华龙、骆建军、樊凌府TECHINOLOGY8SRDII SJ/T116542016固态盘通用规范1范围本标准规定了固态盘的要求、试验方法、质量评定程序、标志、包装、运输、贮存等。本标准适用于固态盘（以下简称“产品”）的设计、生产、制造、检验等，其他包含固态盘功能模块的设备也可参考。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其必威体育精装版版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T191包装储运图示标志GB/T2421.1电工电子产品环境试验概述和指南GB/T2422电工电子产品基本环境试验规程术语电工电子产品环境试验GB/T2423.1第2部分：试验方法试验A：低温GB/T2423.2电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温电工电子产品环境试验GB/T2423.3第2部分：试验方法试验Ca：恒定湿热试验方法GB/T2423.5电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击电工电子产品环境试验GB/T2423.10第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动(正弦)GB4943.12011信息技术设备安全第1部分：通用要求GB/T5080.7设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案4信息技术词汇第14部分：可靠性、可维护性与可用性GB/T5271.14GB9254信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法GB/T176183信息技术设备抗扰度限值和测量方法电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）GB17625.1GB/T17626.2电磁兼容试验和测量技术静电一放电抗扰度试验电子电气产品六种限用物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚）的测GB/T26125定电子电气产品中限用物质的限量要求GB/T26572GJ热封柔韧性静电阻隔材料规范3术语和定义下列术语和定义适用于本文件。3. 1固态盘solidstatedisk采用半导体存储芯片阵列作为存储部件的数据存储设备。1 SJ/T116542016注1：固态盘由控制单元和存储单元组成，通常采用传统的硬盘驱动器接口规范。注2：固态盘根据媒体类型分为两种：基于闪存的固态盘和基于其它半导体存储芯片的固态盘。后者中的多数媒体及其相关技术尚未成熟，目前无法确定其产品的具体特征参数，因此在本标准中关于性能方面的要求，如无特殊说明则均指基于闪存的固态盘。注3：组成固态盘的半导体存储芯片具备多次可编程的能力。3. 2使用寿命lifespan（endurance）在保证数据正确的情况下，固态盘可正常执行读写操作的次数。3. 3NDINFORMATION标称容量nominalcapacity按照固态盘厂家公布的固态盘公进制数计算。注：用8或1表示，其少是ITB=10字节。NDUS3. 4TECHNOLOGY数据传输率dtranstaPra输的数据位类单位时间内所路示，其注：用Mb/sec，Gb/sec=23位/秒。3.5Ypaornance读性能read单位时间内读取固态盘的数携操你的3. 6F写性能write performanceL单位时间内写入固态盘购数据字节数或单位时间内写操作的次数。S3.7RD可恢复读错误recoverable read error读数据时出错，并在规定的重试次数内可恢复的3.8不可恢复读错误un