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2023-08-19 发布于四川
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一种闪存的测试方法、系统、装置及存储介质.pdf

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本发明公开了一种闪存的测试方法、系统、装置及存储介质。该方法包括：获取闪存晶圆中的第一出厂块；对第一出厂块进行功能测试，判断第一出厂块是否为运行坏块；运行坏块用于表征功能测试结果为不通过的出厂块；若第一出厂块为运行坏块，还原第一出厂块的状态为第一状态，在坏块表中标记第一出厂块。本发明实施例通过功能测试，发现运行坏块；并对属于运行坏块的第一出厂块进行状态还原处理，缓解了对运行坏块进行标记带来的易混淆问题，有利于提升测试结果的准确度。因此，本发明实施例能够对闪存晶圆进行功能测试，有利于缓解坏块标记的

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116612803 A (43)申请公布日 2023.08.18 (21)申请号 202310569141.4 (22)申请日 2023.05.18 (71)申请人珠海妙存科技有限公司地址 51

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