GB/T 1555-2023半导体单晶晶向测定方法.pdf

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| 2024-03-01 实施

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ICS77.040 CCSH21 中华人民共和国国家标准 / — GBT1555 2023 代替 / — GBT1555 2009 半导体单晶晶向测定方法 Testmethodsfordeterminin theorientationofasemiconductivesinlecrstal g g y 2023-08-06发布 2024-03-01实施国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 / — GBT1555 2023 前言 / — 《 : 》本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定 GBT1.1 2020 1 起草。 / — 《》, / — , 本文件代替 GBT1555 2009半导体单晶晶向测定方法与 GBT1555 2009相比除结构调 , : 整和编辑性改动外主要技术变化如下 ) ( , ); 更改了射线衍射定向法的适用范围见第章年版的第章 a X 1 2009 1 ) ( ); 增加了试验条件见第章 b 4 ) ( , ); 更改了射线衍射法定向法的原理见年版的第章 c X 5.12009 4 ) ( ); 增加了样品的要求见和 d 5.4 6.4 ) ( , ); 更改了试验数据处理见年版的第章 e 5.62009 14 ) ( ,

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