T∕SCS 000015-2023 氧化锆固体电解质 相含量的测定 全谱拟合法.pdf

res 11. 040. 40 CCS G04 体 准 团 标 T/SCS 000015-2023 氧化错固体电解质相含量的测定 全谱拟合法 Rietveld Whole Pat士回i Fitting Method for 也e Quantitative Phase Analysis of Zirconia Solid Elec位01”e 2023- 07- 29 发布 2023-08- 30 实施 上海市硅酸盐学会 发布 T/SCS 000015-2023 前言 本文件按照GBff I.I 2020 《标准化工作导则 第1部分z 标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利．本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由上海市硅酸盐学会提出并归口． 本文件起草单位z 中国科学院上海硅酸盐研究所、上海市计量测试技术研究院、南京邮电大学、上 海大学。 本文件主要起草人z 程国峰，阮音捷，周莹，解其云，杨昕昕，刘莓，王沁悦，孙泪。 I T/SCS 000015-2023 氧化错固体电解质相含量的测定全谱拟合法 1 范围 本文件规定了利用Rietveld全谱拟合法〈简称全谱拟合法〉测量氧化错中各相（立方、四方、单斜〉 含量的术语和定义、方法原理、仪器和测量条件、样晶、实验步骤、结果与计算等。 本文件适用于氧化错固体电解质粉体中立方、四方和单斜相的定量分析。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件， 仅该日期对应的版本适用于本文件：不注日期的引用文件，其必威体育精装版版本（包括所有的修改单〉适用于本 文件。 GB/I 31568-2015 热障Zr02涂层晶粒尺寸的测定．谢乐公式法 JB/f 9400 x射线衍射仪技术条件 JY!I 。当87-2020 转靶多晶X射线衍射方法通则 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3. 1 立方相氧化错 Cubic Zircon咀 空间群为Fm-3m的立方结构氧化错。 3.2 四方相氧化错 Tetragonal Zirconia 雪间群为P42/nmc的四方结构氧化错。 3，手 单斜相氧化错 Monoclinic Z让conia 空间群为P21/a的单斜结构氧化错。 3.4 Rietveld 全谱拟合Rietveld Whole Pat阳mFitting 由若干个可变参数（包括结构、峰型、织构、背底等）计算得到粉末衍射全谱，通过精修其中一些 参数，使整个计算衍射谱与实验测定谱相吻合的过程。 4 方法原理 利用Rietveld全谱拟合法，进行物相定量分析。 W; =S;(ZMV);f:f.pSp(ZMV)p …··”…”…”…”…”…”…”…”…”…”…”.. (1) 式中z w「一搁在样品中的质量分数： S一－Rietveld定标因子； Z一一晶胞中的单位化学式数量；