恒流驱动下基于VeE_max的IGBT模块解耦老化影响的结温测量方法.pdfVIP

2022 年 6 月 电 工 技 术 学 报 Vol.37 No. 12 第 37 卷第 12 期 TRANSACTIONS OF CHINA ELECTROTECHNICAL SOCIETY Jun. 2022 DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.211003 恒流驱动下基于 V 的IGBT 模块 eE_max 解耦老化影响的结温测量方法 1,2 1 1 1 1 杨舒萌 孙鹏菊 王凯宏 王绪龙 黄 旭 （1. 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室（重庆大学） 重庆 400044 2. 株洲中车时代半导体有限公司 株洲 412001 ） 摘要 绝缘栅双极型晶体管（IGBT ）的结温在线测量对于电力电子装置的安全可靠运行、延 长使用寿命和热管理等都具有重要意义。然而，目前大多数温敏电参数均受 IGBT 模块疲劳老化 的影响。为此，该文提出一种恒流驱动下基于感应电压峰值VeE_max 的IGBT 模块结温在线测量方 法，该方法能够解耦键合线老化对温敏电参数的影响。基于双脉冲实验平台分析 VeE_max 的温线性 度和温敏感度，并通过模拟键合线老化实验验证所提方法的老化解耦性。最后，通过 Buck 变换 器验证该方法在运行变流器中在线结温测量的可行性。 关键词：绝缘栅双极型晶体管（IGBT ） 温敏电参数 解耦老化影响 结温在线测量 中图分类号：TM46 Junction Temperature Measurement Method of IGBT Modules Based on VeE-max Under Constant-Current Source Drive Which Decouples Fatigue Effect Yang Shumeng1,2 Sun Pengju 1 Wang Kaihong 1 Wang Xulong 1 Huang Xu 1 （1. State Key Laboratory of Power Transmission Equipment System Security and New Technology Chongqing University Chongqing 400044 China 2. Zhuzhou CRRC Times Semiconductor Co. Ltd Zhuzhou 412001 China ） Abstract Online junction temperature measurement of insulated gate bipolar transistors (IGBTs) is of great significance for safe and reliable operation, prolonging service life and thermal management of power electronic devices. However, most of the temperature sensitive electrical parameters (TSEPs) are coupled with the fatigue of IGBT modules. Therefore, this paper proposed a