元器件长期储存可靠性规律研究.pdf

研究与设计 Research and Design 元器件长期储存可靠性规律研究 于望，温景超，刘开，何忠名，胡涵，赵彦飞 （中国运载火箭技术研究院，北京 100076） 摘要：阐述进口元器件的超期使用引出的电子产品可靠性问题，分析进口元器件长期储存后出现的失效 状况，电子元器件长期储存的可靠性规律，从而对元器件的长期储存以及超期质量控制提出建议。 关键词：电子元器件，超期复验，质量等级，超期失效。 中图分类号：TN607 文章编号：1674-2583(2021)02-0018-02 DOI：10.19339/j.issn.1674-2583.2021.02.007 中文引用格式：于望，温景超，刘开，何忠名，胡涵，赵彦飞.元器件长期储存可靠性规律研究[J].集成电 路应用,2021, 38(02): 18-19. Study on Long Term Storage Reliability of Components YU Wang, WEN Jingchao, LIU Kai, HE Zhongming, HU Han, ZHAO Yanfei ( China Academy of Launch Vehicle Technology, Beijing 100076, China.) Abstract — This paper expounds the reliability problems of electronic products caused by the extended use of imported components, analyzes the failure status of imported components after long- term storage, and the reliability law of electronic components after long-term storage, so as to put forward suggestions on the long-term storage and extended quality control of components. Index Terms — electronic components, overdue retest, quality level, overdue failure. 0 引言 目前进口元器件面临供货周期不可控甚至禁 运的风险，因此进口元器件的长期储存愈发成为常 态，研究进口元器件的长期储存规律有利于识别质 量控制风险，对今后的工作有指导意义。元器件在 规定的环境条件下储存超过有效储存期后，其质量 与可靠性有可能退化至不能满足使用要求的程度， 因此为了验证其质量与可靠性需要对超期的元器件 进行超期复验。本文对元器件长期储存后超期复验 以及失效情况进行了梳理分析，给今后超期质量控 制工作提供一些参考。 图1 进口元器件超期失效种类分布 1 进口元器件超期复验情况 元器件超期复验项目参考GJB/Z 123-1999等标 元器件的储存期是指元器件从出厂至装机使用 准一般包含外观质量检查、电性能测试、密封性检 前在一定的环境条件下存放的时间。元器件有效储 查、声学扫描显微镜检查（塑封器件适用）、引出 存期是指特定质量等级的元器件在规定的储存环境 端可焊性检查、引出端强度试验、破坏性物理分析 条件下存放，其批质量能够满足要求的期限。而存 （DPA ）等。表1展示了超期复验任务中，在各个试 [1] 放时间超过有效储存期的元器件即为超期元器件 。 验项目中不同元器件的失效情况；图2展示了元器件 超期复验的目的是为验证超期元器件的可靠性是否 在不同试验项目中出现失效的占比。 依旧满足要求。 表1 各类超期失效元器件 通过梳理5年周期数据库内进口元器件的超期复 验任务共2 931批，在所有超期复验任务中发现159 批存在失效情况，总体超期失效率为