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2023-10-28 发布于四川
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一种带调试功能的芯片及芯片调试方法.pdf

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本发明提供一种带调试功能的芯片及芯片调试方法，该带调试功能的芯片包括：寄存器组、调试模块、应用模块、第一引脚、第二引脚，寄存器组分别连接调试模块与应用模块；调试模块包括SWI模块、调试控制模块、TWI模块，调试控制模块分别连接SWI模块与TWI模块，SWI模块连接第一引脚，TWI模块连接第一引脚与第二引脚，应用模块分别连接第一引脚与第二引脚；寄存器组包括调试寄存器，调试寄存器包括调试输出信号选择比特位、TWI模块使能比特位、TWI模块调试输出使能比特位。本发明还提供基于芯片的芯片调试方法。本发明

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116955032 A (43)申请公布日 2023.10.27 (21)申请号 202310817275.3 (22)申请日 2023.07.04 (71)申请人珠海普林芯驰科技有限公司地址

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