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1. acceptance testing (WAT: wafer acceptance testing) 31. Chemical-mechanical polish(CMP ):化学机械抛光法。一种去掉圆片表面某种物质的方法。
2. acceptor: 受主,如 B ,掺入 Si 中需要接受电子 32. Chemical vapor deposition (CVD ):化学汽相淀积。一种通过化学反应生成一层薄膜的工
3. Acid :酸 艺。
4. Active device:有源器件,如MOS FET (非线性,可以对信号放大) 33. Chip :碎片或芯片。
5. Align mark(key):对位标记 34. CIM :computer-integrated manufacturing 的缩写。用计算机控制和监控制造工艺的一种
6. Alloy:合金 综合方式。
7. Aluminum :铝 35. Circuit design:电路设计。一种将各种元器件连接起来实现一定功能的技术。
8. Ammonia :氨水 36. CleanroomCleanroom :一种在温度,湿度和洁净度方面都需要满足某些特殊要求的特定区域。
9. Ammonium fluoride :NH4F 37. Compensation doping :补偿掺杂。向P 型半导体掺入施主杂质或向 N 型掺入受主杂质。
10. Ammonium hydroxide :NH4OH 38. CMOS :complementary metal oxide semiconductor 的缩写。一种将 PMOS 和 NMOS
11. Amorphous silicon:α-Si,非晶硅(不是多晶硅) 在同一个硅衬底上混合制造的工艺。
12. Analog :模拟的 39. Computer-aided design (CAD ):计算机辅助设计。
13. Angstrom :A (1E-10m )埃 40. Conductivity type :传导类型,由多数载流子决定。在N 型材料中多数载流子是电子,在型材料中多数载流子是电子,在
14. Anisotropic:各向异性(如POLY ETCH ) P 型材料中多数载流子是空穴。
15. AQL(Acceptance Quality Level) :接受质量标准,在一定采样下,可以 95% 置信度通过质 41. Contact :孔。在工艺中通常指孔1,即连接铝和硅的孔。
量标准(不同于可靠性,可靠性要求一定时间后的失效率) 42. Control chart:控制图。一种用统计数据描述的可以代表工艺某种性质的曲线图表。
16. ARC(Antireflective coating):抗反射层(用于METAL 等层的光刻) 43. Correlation:相关性。
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