- 1、本文档共6页,其中可免费阅读5页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明涉及存储器技术领域,具体涉及一种DDR多比特ecc错误处理方法,包括以下步骤:S01)DDR控制器检测在不同写入数据下的ecc错误地址是否相同;S02)判定该ecc错误为软件故障或硬件故障;S03)当ecc错误为硬件故障时,对ecc报错地址单独进行读写;S04)根据读写结果判定ecc报错地址处是否出现ecc错误;S05)若是,则判定为颗粒故障;若否,则判定地址线间存在短路;S06)对不同的故障类型进行不同方式的修复。本发明可提高错误识别的准确率,可使用户快速对故障进行修复,提高了内存系统的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117012261 A
(43)申请公布日 2023.11.07
(21)申请号 202310974123.4
(22)申请日 2023.08.04
(71)申请人 山东华芯半导体有限公司
地址 2
文档评论(0)