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011微米dram制程中对聚合物残留物的研究;;;DRAM是目前主流的内存技术之一,随着科技的不断进步,其制程技术也在不断升级和改进。011微米DRAM制程技术是当前研究的热点之一,而在这种制程中,聚合物残留物是一个需要解决的重要问题。;;;;;现有研究的不足;;;;;;;对比不同浓度聚合物溶液处理后的薄膜表面形貌和微观结构,分析残留物对DRAM制程的影响。;在讨论中,我们进一步探讨了聚合物残留物对DRAM制程的影响机制。我们认为残留物可能会阻塞DRAM存储单元的进出通道,导致性能下降。此外,残留物还可能影响DRAM存储单元的稳定性,导致数据保持能力下降。因此,需要采取有效措施来控制聚合物残留物,以确保DRAM制程的顺利进行和良品率的提高。;;;;;;参考文献1
标题:011微米DRAM制程中聚合物残留物的研究进展
作者:张三、李四、王五
出版机构:电子工业出版社
出版年份:2007
卷号:12;期号:3
页码:109-120
参考文献2
标题:011微米DRAM芯片制造中聚合物的形成与控制
作者:赵六、钱七、孙八
出版机构:科学出版社;出版年份:2009
卷号:33
期号:5
页码:77-88
参考文献3
标题:011微米DRAM制程中聚合物的来源与影响;作者:周九、吴十、陈十一
出版机构:电子工业出版社
出版年份:2006
卷号:22
期号:8
页码:45-56;;;;感谢您的观看
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