用于孔测试的自动测试设备.pdfVIP

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2023-11-29 发布于四川
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本发明公开了一种用于孔测试的自动测试设备，包括测试治具和设置在测试治具上面的光学识别器），所述测试治具包括压板和按照预设位置安装在压板上面的若干个测试探杆，所述测试探杆在压板上面的位置对应与待测产品的孔径的位置，所述测试探杆和压板之间通过升降结构活动连接，当将压板压覆在待测产品之上的时候，所述升降结构会带动测试探杆向上凸起于压板的表面。如果测试探杆无法插入待测产品的孔径内，那么测试探杆会以连接环与连接座之间的线连接的位置为支撑点沿着压板的竖直方向被顶出压板的上表面，从而被设置在测试治具上面的光学

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117128858 A (43)申请公布日 2023.11.28 (21)申请号 202311067976.6 (22)申请日 2023.08.23 (71)申请人东莞市擘和电子有限公司地址 5

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