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一种二次谐波响应探测系统及二维材料晶轴方向表征方法.pdfVIP

一种二次谐波响应探测系统及二维材料晶轴方向表征方法.pdf

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    本发明涉及光学显微成像技术领域，更具体地，涉及一种二次谐波响应探测系统及二维材料晶轴方向表征方法。光路部分选用了成本较低的工业级激光器与光电倍增管为核心元件，并利用了多种标准光学元件完成了入射激光的特性调控，成功得到了足够强的二次谐波信号。电路部分，利用成本低、噪音小的干电池来驱动光电倍增管，然后选用电流放大器与锁相放大器的方式来得到较高信噪比的测量信号。本发明不仅降低了设备成本和人工成本，而且还提升了测量的精准度。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117191783A

    (43)申请公布日2023.12.08

    (21)申请号202311058589.6

    (22)申请日2023.08.21

    (71)申请人中山大学

    地址510275

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