- 1、本文档共15页,其中可免费阅读14页,需付费10金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明公开了一种高斯分布电子束束斑尺寸的测量方法,包括步骤:将电子束以直线路径扫描刀口,并在扫描的过程中检测电子束状态信号和电子束扫描距离;电子束状态信号包括散射电子信号强度或透过刀口的电子束功率;其中直线路径与所述刀口的布置方向呈夹角θ,夹角θ的范围为5°~30°;根据电子束状态信号和电子束扫描距离,得到电子束的束斑直径。本发明还公开了一种高斯分布电子束束斑尺寸的测量系统。相比于现有的扫描方法,本发明的测量方法可以增加扫描路径的长度,减小刀口边缘电子累计效应影响,减小测量误差,成本低、步骤简单
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117373885A
(43)申请公布日2024.01.09
(21)申请号202311274279.8
(22)申请日2023.09.27
(71)申请人中国电子科技集团公司第四十八研
文档评论(0)