mos器件大电流kirk效应.docxVIP

  1. 1、本文档共1页,可阅读全部内容。
  2. 2、有哪些信誉好的足球投注网站(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  5. 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  6. 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  7. 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  8. 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多

mos器件大电流kirk效应

Kirk效应,即翘曲效应(Kinkeffect),对于一个优化过的RESURFPLEDMOS来说,在关态漏端加能够承受的最高电压时,漂移区完全耗尽,漂移区两端的两个峰值电场大小相同。开启态栅加较高电压时,大量的空穴从漏经漂移区流到源,漂移区是p型掺杂,完全耗尽后剩下n型空间电荷,从整体上看,流过漂移区的这些空穴降低了空间电荷的浓度,也就是相当于降低了漂移区的掺杂浓度。

漂移区空间电荷浓度低于最优的掺杂浓度,会使漂移区的等压线挤向漏区,导致漏端电场强度升高。这种现象称之为Kirk效应。

对于本文设计的PDP驱动芯片专用的RESURFPLEDMOS,开启态栅接高压电源,栅的高压导致沟道的更强反型和更高的源漏电流,因此Kirk效应将更加明显。

文档评论(0)

教育小能手小孙 + 关注
实名认证
服务提供商

针对中小学教学PPT制作及班会PPT制作

1亿VIP精品文档

相关文档