4-8 散射线的控制.pptx

第四章检测工艺4.8散射线的控制4.8散射线的控制4.8.1散射线的来源和分类4.8.2散射比的影响因素4.8.3散射线的控制措施4.8.1散射线的来源和分类产生散射线的物体称作散射源。在射线透照时，凡是被射线照射到的物体，例如试件、暗盒、桌面、墙壁、地面，甚至空气都会成为散射源。最大的散射源往往是试件本身。4.8.1散射线的来源和分类散射线的分类前散射：来自暗盒正面的散射。背散射：来自暗盒背面的散射边蚀散射：试件周围的射线向试件背后的胶片散射，或试件中的较薄部位的射线向较厚部位散射。边蚀散射会导致影像边界模糊，产生低黑度区域的周边被侵蚀，面积缩小的所谓“边蚀”现象。4.8.2散射比的影响因素焦距对散射比的影响：在实际使用的焦距范围内，焦距的变化对散射比几乎没有影响。透照场的影响：当照射场较小时，散射比随照射场的增大而增大，当照射场直径超50mm后，即使照射场再增大，散射比也基本保持不变。4.8.2散射比的影响因素射线能量对散射比的影响：在工业射线照相应用范围内散射比随射线能量增大而变小，而在相同射线能量下，散射比随钢厚度增大而增大。焊缝余高对散射比的影响：对有余高的焊缝试板透照时，焊缝中心部位的散射比与平板试件的散射比明显不同，焊缝中心散射比高于同厚度平板中的散射比，随着能量的增大，两者数值逐渐接近。4.8.3散射比的控制措施选择合适的射线能量对厚度差较大的工件，例如余高较高的焊缝或小径管透照时，散射比随射线能量的增大而减小。可以通过提高射线能量的方法来减少散射线，但射线能量值只能适当提高，以免对主因对比度和固有不清晰度产生明显不利的影响。4.8.3散射比的控制措施使用铅箔增感屏铅箔增感屏除了具有增感作用外，还具有吸收低能散射线的作用。选择较厚的铅箔减少散射线的效果较好，但会使增感效率降低，铅箔厚度也不能过大。实际使用的铅箔厚度与射线能量有关，且后屏的厚度一般大于前屏。4.8.3散射比的控制措施背防护铅板可在暗盒后面加一块铅板以屏蔽背散射射线。使用背防护铅板的同时仍需使用铅箔增感后屏，否则背防护铅板被射线照射时激发的二次射线有可能到达胶片，对照相质量产生不利影响。当暗盒背后近距离内没有导致强烈散射的物体时，可以不使用背防护铅板。4.8.3散射比的控制措施铅罩和光阑：使用铅罩和铅光阑可以减小照射场范围，从而在一定程度上减少散射线。厚度补偿物在对厚度差较大的工件透照时，可采用厚度补偿措施来减少散射线。焊缝照相可使用厚度补偿块，形状不规则的小零件照相可使用流质吸收剂，或金属粉末作为厚度补偿物。4.8.3散射比的控制措施滤板在对厚度差较大的工件透照时，可以在X射线机窗口处加滤板，将X射线束中波长较长的软射线吸收掉，使透过射线波长均匀化，有效能量提高，从而减少边蚀散射。在工件和胶片暗盒之间加滤板通常用于Ir192和Co60γ射线照相或高能X射线照相，作用是过滤工件中产生的低能散射线，尤其当存在边蚀散射时，加滤板的作用更明显。4.8.3散射比的控制措施遮蔽物：当被透照的试件小于胶片时，应使用遮蔽物对直接处于射线照射的那部分胶片进行遮蔽，以减少边蚀散射。修磨试件：通过修整，打磨的方法减小工件厚度差也可以作为减少散射线的一项措施，例如，检查重要的焊缝时，将焊缝余高磨平后透照，可明显减小散射比，获得更佳的照相质量。