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本发明公开了一种基于一发一收相控阵探头的分层缺陷轮廓重建方法,属于无损检测技术领域。该方法采用由相控阵超声检测仪、两个相控阵探头和楔块构成的检测系统,两个相控阵探头对称放置并组成一发一收模式采集全矩阵信号;针对不同待测区域,选择不同模式波进行延时叠加处理和成像分析,从而实现未知分层缺陷的轮廓重建与定量检测。该方法利用一发一收相控阵模式,避免了直入射检测时不规则表面结构对探头放置的干扰,以及单探头斜入射检测时反射信号难以被接收的问题,能够重建先验未知的分层缺陷轮廓,缺陷特征辨识直观,且定量检测精度
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117491504A
(43)申请公布日2024.02.02
(21)申请号202311537817.8
(22)申请日2023.11.17
(71)申请人大连理工大学
地址116024
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