如何查出OLED中DC生产测的试测量误差.doc

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2024-02-22 发布于湖南
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如何查出OLED中DC生产测的试测量误差

测量误差的来源是由测试系统的精度、以及在对OLED给出信号和进行测量期间所未曾想到的瞬态过程引起的。在进行快速的生产测试时，在稳定状态下进行精确DC测量的能力，是与尽可能快地完成测试的需求相互牵制的。测试周期的时间长短是由源/测量以及开关操作组成的，而这一周期时间可以有非常大的变化范围。比如，如果2400被设置成用最短的测试时间间隔（aperture）完成操作，即0.01NPLC，那么源/测量过程就可以在1ms内完成。如果把积分（integration）周期或测量时间增加到1.0NPLC，那么测量时间就增加到大约17ms.用牺牲测试速度来增加测试