一种半导体芯片测试数据的存储方法、装置及电子设备.pdfVIP

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2024-02-28 发布于四川
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一种半导体芯片测试数据的存储方法、装置及电子设备.pdf

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本申请提供了一种半导体芯片测试数据的存储方法、装置及电子设备，半导体芯片测试数据的存储方法包括将目标芯片的目标测试项目按照预设测试步骤进行行排序，确定目标测试项目对应的数据文件行信息；将目标测试项目下先后按照预设测试项目基本信息、预设测试步骤信息以及预设测试项目条件输出信息进行列排序，确定目标测试项目下的数据文件列信息；基于数据文件行信息、数据文件列信息以及目标测试数据，确定目标芯片在各个不同的目标数据存储表。本申请实现了对目标芯片的自动化测试，进而提高对目标芯片的测试数据分析效率和测试可靠性，

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117608484A

(43)申请公布日2024.02.27

(21)申请号202311617337.2

(22)申请日2023.11.29

(71)申请人上海孤波科技有限公司

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