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一种半导体装置,包括:衬底上的下电路图案;下电路图案上的共源极板(CSP);栅电极结构,其包括在CSP上沿基本上垂直于衬底的上表面的第一方向彼此间隔开的栅电极,栅电极中的每一个在基本上平行于衬底的上表面的第二方向上延伸;第一绝缘图案结构,其位于CSP的在第二方向上与栅电极结构相邻的部分上;第一划分图案,其在CSP上沿第三方向延伸,第三方向基本上平行于衬底的上表面并且与第二方向交叉,第一划分图案延伸穿过栅电极结构的与第一绝缘图案结构相邻的部分并且在第二方向上分离栅电极结构。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117641915A
(43)申请公布日2024.03.01
(21)申请号202311087691.9H10B43/35(2023.01)
(22)申请日2023.08.
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