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AECQ100項目簡表
绑线切应力
WBS
Cl
杲少5个器件中的30个绑线
Cpk} L3,3
Ppk)l.67
AEC-1QIOO 001
绑线拉力
翱P
C2
Cpk)
1..33
Ppk)L67
或温度循环
(#A4)
后0Fails
MIL-STD883
method 2011
可焊性
SD
C3
15
1
)95％引脚
设盖
JEDEC JESD22-
B102
物理尺寸PDC41
物理尺寸
PD
C4
10
3, Cpk)L33
几DECJESD22-
B100 andB108
锡球切应力
SBS
C5
最少10
个器件中的5个锡球
3
Cpk1 33
Ppk)l..67
AEC-QlOO 010
引线完整性
LI
06
5个零件每一个的10个
引线
l
无破损或开裂
几DECJESD22-B105
应力测试缩写厂编号每批样品个数批数接受标准遵循的测试规范电迁移..7.
应力测试
缩写
厂编号
每批样
品个数
批数
接受标准
遵循的测试规范
电迁移
..7.- L如
E九I
勹，n...a.J.. IV
D1
经时介质击穿
TDlDB
D2
D3
热载流子注入
HCI
负偏压温度不稳
定性
NBTI
D4
应力迁移
SM
D5
应力测试缩写编号每批样品个数批数接受标准遵循的测试规范应力涓试前后功能参数TESTEl
应力测试
缩写
编号
每批样
品个数
批数
接受标准
遵循的测试规范
应力涓试前后功能参数
TEST
El
ALL
ALL
0Fails
测试项目根据供应者数据规格或用户
手册
0Fails
2KVHBM
人体模式／机器模式静电放电
HBM/l1!M
E2
参考测试规范
1
(H2或更
高）
200VMM
AEC-Qil00-002AEC—QlOO—003
好文档
俨让好胆友也石到
X
， r..＿..－
带电器件模式静电放电
COM
E3
参考测试规范
l
0Fails700V边角引脚500V其他引脚(C3B,或更
高）
AEC-QlOO—011
门锁效应
LU
E4
6
l
0Fails
AEC-iQI00-004
电分配
ED
E5
30
3
见AEC—
0100-009
AEC-:Ql00-009
故陓分级
FG
E6
见尪c-
Ql00-007
第4节
AEC-Ql00-007
特性描述
CHAR
E7
AEC-Q003
屯热效应引起的
枙漏
GL
E8
6
1
0Fails
AEC-Ql00-006
电磁兼容
EMC
E9
1 1
SAE Jl752/3－辐射
短路特性描述
SC
E10
10
3
0Fails
AEC-Ql00-012
软错误率
SER
Ell
3
1
JEDEC
无加速：JESD89-1
加速：JESD89—2或
」辽5[)89-3
应力测试缩写编号每批样品个数批数接受标准遵循的测试规沁部件平均测试PATFlAEC-QOOl统计良率分析SBAF27rAEC-Q002. - ...『
应力测试
缩写
编号
每批样
品个数
批数
接受标准
遵循的测试规沁
部件平均测试
PAT
Fl
AEC-QOOl
统计良率分析
SBA
F2
7
rAEC-Q002
!l\力测试|缩写I 编号1 : .J几
!l\力测试
|
缩写
I 编号1 : .J几 订
日n个数
批数
接受标准 遵循的测试规范
机械冲击 IMS IG1 | 3911 3!lloFail s BJ1ED04EC JESD22-
变频振动
IVFV
IG2
3911
31110
Fails
JEDEC JESD22-B103
恒加速应力
lcA
IG,3
|
3911
310
1
F ..1..
als
IIIMI-L STD883
Method2001
粗／细气漏 IGFL IG4
｀d,心 习L七工芯亡.,.下矗｀ I
3911
31110Fails MIL-STD883
Method1014
II
粗／细气漏
GFL
G4
39
3
0Fails
MIL-STD883
Method 1014
跌落测试
盖板扭力测试
DROP
G5
5
1
0Fails
LT
G6
5
1
0Fails
MIL STD883
Method 2024
芯片切断
5
1
0Fails
MIL STD883
Method 2019
DS
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